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文章来源 : 粤科检测 发表时间:2024-07-12 浏览量:
在当今高度竞争的半导体行业,确保产品的可靠性和稳定性是每个企业必须面对的重要课题。江苏粤科检测作为一家专业的第三方分立器件检测机构,致力于为客户提供全方位的可靠性试验检测服务。我们的实验室配备高温反偏老练检测系统,能够提供分立器件高温反偏(HTRB)测试服务,帮助客户验证产品的可靠性。
我们的HTRB测试服务严格遵循以下标准:
- 半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021
- 半导体分立器件总规范 GJB 33A-1997
- 车用分立半导体元器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q101-Rev-E:2021
- 半导体器件试验方法 MIL-STD-750F:2012
HTRB测试是验证二极管、三极管、MOS管、IGBT等分立器件可靠性的关键项目。该测试的目的是暴露与时间、应力相关的缺陷,这些缺陷通常是钝化层的可移动离子或温度驱动的杂质。半导体器件对杂质高度敏感,制造过程中有可能引入杂质。杂质在强电场作用下会呈现加速移动或扩散现象,最终扩散至半导体内部导致失效。同样地,晶片表面钝化层损坏后,杂质可能迁移到晶片内部导致失效。HTRB测试可以加速这些失效的呈现,从而排查出异常器件。
在进行HTRB测试时,我们通常会根据不同产品的要求选择不同的样品数。例如,在进行工业级产品可靠性验证时,通常选取样品数为22片,而汽车级(AEC-Q101)的样品数则提高到77片。基本半导体的碳化硅二极管的HTRB测试温度为175℃,高于一般测试标准的150℃。在测试过程中,器件在175℃的环境温箱里被施加80%的反压。如果在1000小时内漏电参数未超出规格底线且保持稳定不发生变化,说明器件设计和封装组合符合标准。
1. 专家团队
可靠性检测专家、定制化服务、专业人员技术培训服务,拥有多名航空、航天电子元器件质量可靠性专组成的专家团队50余人。
2. 专业设备
配备各种规格的集成电路测试系统,老炼箱50余台、各类环境箱体20台套、机械性能与可靠性检测设备30台套、半导体分立器件测试系统、模拟器件测试系统、检漏系统、PIND颗粒碰撞检测设备等。
3. 一站式方案服务
依据客户产品规格,准确制定元器件的筛选方案和规程\依据筛选结果,准确定位元器件失效机理,并依据客户需求给出元器件失效分析方案。
4. 权威保障
军用级检测体系控制+军方实验室认可检测设备,保证测试流程和测试精度,第三方公正检测机构。
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